HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗(yàn)箱，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕...

HAST高加速老化壽命試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)...

微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過(guò)施加高加速偏...

HAST離子遷移CAF絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1...

CAF-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，是一種可信賴性的試驗(yàn)設(shè)備，原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路...

Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...

PCB-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)...

BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試 HAST試驗(yàn)箱，BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試，bHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試（Bias Highly Accele...

HAST高加速老化測(cè)試系統(tǒng)，高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測(cè)量元件的可靠性，無(wú)論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳...

HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測(cè)試箱BHAST實(shí)驗(yàn)箱，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...

HAST高加速老化壽命PCB老化試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，...